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产品和技术
芯片版图掩模优化产品（OPC）
超快速的运行效率和0.1nm级别的模型精度
复杂Density版图的局部深度优化
Process Window 工艺窗口的综合优化引擎
全面覆盖的OPC model based verification detectors
芯片版图物理验证系统（Physical Verification Platform）
基于版图层次结构对标准单元及连接版图做图形及连通性检查。
准确快速的设计规则检查，缩短芯片设计周期；减少人工编码，提高自动化程度。
减少人工编码设计规则的工作量，提高设计规则提取、版图检测的自动化程度。
芯片版图Dummy Fill产品
在生产版图中插入dummy图形，有效改善CMP工艺的晶圆表面平整度，增大工艺窗口
弈芯产品支持各类dummy图形的添加、实时的密度检查与满足等
支持post-fill版图的基础DRC命令进行检查如测距、密度检查等
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